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dc.creatorLins, Gleidson Santos
dc.date.accessioned2025-03-18T14:29:54Z
dc.date.available2025-03-18T14:29:54Z
dc.date.issued2024-10-31
dc.identifier.citationLINS, Gleidson Santos. Identificação de deformidades em grãos de chips de resina PET com o uso de inteligência artificial. IFPE, Jaboatão dos Guararapes, p. 1-17, 2024.pt_BR
dc.identifier.urihttps://repositorio.ifpe.edu.br/xmlui/handle/123456789/1546
dc.description.abstractThis article addresses the use of machine learning to detect visual anomalies in PET (polyethylene terephthalate) resin chips, which may be caused by manufacturing, storage, or transportation issues. It has explanations about what machine learning is, PET resin and visual anomalies. It then discusses how machine learning is used in industry and what the most common techniques are, such as linear regression, logistic regression, decision trees, neural networks, and clustering algorithms. The article then presents a methodology for using machine learning to detect visual anomalies in PET resin chips, which involves creating a machine learning model trained on images of normal and abnormal chips with an accuracy of 97.53 %. The model can then be used to scan chip images in real time and alert operators for further investigation, improving the quality of the manufacturing process and reducing the number of defective chips produced.pt_BR
dc.format.extent17p.pt_BR
dc.languagept_BRpt_BR
dc.relationALPEK POLYESTER. Resina PET. 2023. Disponível em: <https://alpekpolyester.com.br/produtos/resina-pet/> . Acesso em: 29 ago. 2023. BL SISTEMAS. Aplicação de aprendizado de máquina na indústria. Disponível em: <http://www.blsistemas.com.br/aplicacao-de-aprendizado-de-maquina-na-industria/>. Acesso em: 9 out. 2024. BREIMAN, L.; FRIEDMAN, J. H.; OLSHEN, R. A.; STONE, C. J. Classification and Regression Trees. Boca Raton: CRC Press, 1984. CERATTO, Renan. Inspeção visual: entenda como analisar os riscos. 2016. Disponível em: <https://onsafety.com.br/inspecao-visual-entenda-como-analisar-os- riscos/> Acesso em: 9 Out 2024. CHOI, J.; LIM, B.; YOO, Y. Advancing Plastic Waste Classification and Recycling Efficiency: Integrating Image Sensors and Deep Learning Algorithms. Appl. Sci. 2023, 13 (18), 10224. Disponível em: <https://doi.org/10.3390/app131810224>. Acesso em: 10 out. 2024. GOODFELLOW, I.; BENGIO, Y.; COURVILLE, A. Deep Learning. Cambridge: MIT Press, 2016. HOSMER, D. W.; LEMESHOW, S.; STURDIVANT, R. X. Applied Logistic Regression. 3. ed. New York: John Wiley & Sons, 2013. JAIN, A. K.; MURTY, M. N.; FLYNN, P. J. Data Clustering: A Review. ACM Computing Surveys, v. 31, n. 3, p. 264-323, 1999. MARTINEZ-HERNANDEZ, U.; WEST, G.; ASSAF, T. Low-Cost Recognition of Plastic Waste Using Deep Learning and a Multi-Spectral Near-Infrared Sensor. Sensors 2024, 24 (9), 2821. https://doi.org/10.3390/s24092821 MICROSOFT. Anomaly Detector Overview. 20/09/2024. Disponível em: <https://learn.microsoft.com/pt-br/azure/ai-services/anomaly-detector/overview/>. Acesso em: 9 out. 2024. MONTGOMERY, D. C.; PECK, E. A.; VINING, G. G. Introduction to Linear Regression Analysis. 5. ed. New York: John Wiley & Sons, 2012. RAI, R., TIWARI, M., IVANOV, D., & DOLGUI, A. (2021). Machine learning in manufacturing and industry 4.0 applications. International Journal of Production Research, 59, 4773 - 4778. Disponível em: <https://doi.org/10.1080/00207543.2021.1956675>. Acesso em: 10 out. 2024. SOUZA, Marco Antonio Alves de. Deposição de materiais metálicos em pó a laser baseado em controle por visão computacional e aprendizagem de máquina. 2020. Dissertação (Mestrado em Física Aplicada) - Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, São Carlos, 2020. doi:10.11606/D.76.2020.tde- 15052020-105711. Disponível em: <https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-15052020-105711/>. Acesso em: 9 out. 2024. XIONG, Edward. Autonomous Sorting of Plastic Resin Using Near-Infrared and Machine Learning. 2019. THE CANADIAN SCIENCE FAIR JOURNAL ARTICLE. v. 3 (4). Ontario, 2019. Disponível em: <https://static1.squarespace.com/static/5a63b41dd74cff19f40ee749/t/60773802f673a 2006a4d4c82/1725023468522/Xiong_Proof.pdf>. Acesso em: 10 out. 2024.pt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.rightsAn error occurred on the license name.*
dc.rights.uriAn error occurred getting the license - uri.*
dc.subjectRedes neurais (Computação)pt_BR
dc.subjectAprendizado de máquinaspt_BR
dc.subjectResinapt_BR
dc.subjectPolietilenopt_BR
dc.subjectInspeção visualpt_BR
dc.titleIdentificação de deformidades em grãos de chips de resina PET com o uso de inteligência artificialpt_BR
dc.typeArticlept_BR
dc.creator.Latteshttps://lattes.cnpq.br/4533581385822322pt_BR
dc.contributor.advisor1Cabral, Luciano de Souza
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/9 195362898891079pt_BR
dc.contributor.referee1Cabral, Luciano de Souza
dc.contributor.referee2Silva, Maria Carolina Torres da
dc.contributor.referee3Silva, Washington Ferreira da
dc.contributor.referee1Latteshttp://lattes.cnpq.br/9 195362898891079pt_BR
dc.contributor.referee2Latteshttp://lattes.cnpq.br/6577076443532261pt_BR
dc.contributor.referee3Latteshttp://lattes.cnpq.br/7 602244183710177pt_BR
dc.publisher.departmentJaboatão dos Guararapespt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.subject.cnpqCIENCIAS EXATAS E DA TERRA::CIENCIA DA COMPUTACAO::SISTEMAS DE COMPUTACAOpt_BR
dc.description.resumoEste artigo aborda o uso do aprendizado de máquina na detecção de anomalias visuais em chips de resina PET (polietileno tereftalato), que podem ser causados por problemas de fabricação, armazenamento ou transporte. Possui explicações sobre o que é aprendizado de máquina, resina PET e anomalias visuais. Em seguida, discute como o aprendizado de máquina é usado na indústria e quais são as técnicas mais comuns, como regressão linear, regressão logística, árvores de decisão, redes neurais e algoritmos de agrupamento. O artigo então apresenta uma metodologia para o uso do aprendizado de máquina na detecção de anomalias visuais em chips de resina PET, que envolve a criação de um modelo de aprendizado de máquina treinado em imagens de chips normais e anormais apresentando uma acurácia de 97,53%. O modelo pode então ser usado para escanear imagens de chips em tempo real e alertar os operadores para investigação adicional, melhorando a qualidade do processo de fabricação e reduzindo o número de chips com defeito produzidos.pt_BR


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